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SPAR 2018J 第14回 3 次元計測フォーラム への出展を行います。

■SPAR 2018J 第14回 3 次元計測フォーラム への出展を行います。
 開催日: 2018 年 5 月22日(火), 23 日(水)
 場所:川崎市産業振興会館 
 TIアサヒブース番号:4F展示場 No.20
 主催:(合)スパーポイントリサーチ
 共催:(一社)日本写真測量学会 
 詳しくは、サイトをご覧ください。
 
■弊社からは以下の製品を出展いたします。 
3Dレーザスキャナ【S-3180V】
1秒間最大1,016,000点のスキャンレートで高速・高精度のデータ取得に最適な位相差方式3Dスキャ ナです。
 
キャビティ・モニタリング・システム【CMS V500
空洞を迅速かつ正確にスキャンし、三次元点群を取得。現況を安全に可視化します。リアルタイムビュー機能が搭載されています。
 
ご多忙中とは存じますが、この機会にぜひ弊社ブースへお立ち寄り頂き、当社の高性能スキャニング・システムに触れていただければと思います。みなさまのご来場を心よりお待ち申し上げております。