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SPAR 2017J 第13回 3 次元計測フォーラム への出展を行います。

■SPAR 2017J 第13回 3 次元計測フォーラム への出展を行います。

 開催日: 2017 年 6 月14日(水), 15 日(木)
 場所:川崎市産業振興会館
 TIアサヒブース番号:4F展示場 No.12
 主催:(合)スパーポイントリサーチ、
 共催:(一社)日本写真測量学会
 詳しくは、サイトをご覧ください。

;http://www.sparj.com



■弊社からは以下の製品を出展いたします。

【3Dレーザースキャナ S-3180V】
 S-3180V は、1秒間最大1,016,000点のスキャンレートで高速・高精度のデータ取得に最適な位相差方式3Dスキャナをご紹介いたします。

【UAV・レーザ測量システム】
 2Dレーザスキャナと3640万画素の高解像度カメラを備え、対地高度250mまでのレーザ計測が可能なシステムをご紹介いたします。

■また、 テクニカルセッション(TS07)においては、「空洞監視システム(CMS)」(予定)について、ご説明をさせて頂きます。

 日時: 6月14日(水) 午後16:40-17:05
 場所: 9F 第 3 研修室

ご多忙のこととは存じますが、この機会にぜひ弊社ブースへお立ち寄り頂き、当社の高性能スキャニング・システムに触れていただければと思います。みなさまのご来場を心よりお待ち申し上げております。