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SPAR 2016J 第12回 3 次元計測フォーラム出展予定

■SPAR 2016J 第12回 3 次元計測フォーラム への出展を行います。

 開催日: 2016 年 6 月 1 日(水), 2 日(木)
 場所:川崎市産業振興会館
 TIアサヒブース番号:4F展示場 No.12
 主催:(合)スパーポイントリサーチ、
 共催:(一社)日本写真測量学会
 詳しくは、右のサイトをご覧ください。URL : http://www.sparj.com

■弊社からは以下の製品を出展いたします。

□3Dレーザースキャナー S-3180V
 S-3180V は、使いやすい組込み型 CMOS カメラを備えた、
 高精度かつ信頼性の高いハイエンド3Dレーザースキャナーです。

□3Dスキャナー リフトシステム
 3Dスキャナー等を約6mの高さまでリフトアップし、水平を保つ事が出来るシステムです。高所の対象物、あるいは、路上の対象物のスキャニングに最適で、見えない箇所の見える化に有効です。

■また、 テクニカルセッション(TS13)においては、「見えない箇所の見える化の進展」と題してTOF&CW レーザのシンクロとUAS による活用方法について、ご説明をさせて頂きます。

 日時: 6月2日(木) 午前11:00-11:30
 場所: 9F 第 3 研修室

ご多忙のこととは存じますが、この機会にぜひ弊社ブースへお立ち寄り頂き、当社の高性能スキャニング・システムに触れていただければと思います。みなさまのご来場を心よりお待ち申し上げております。


※画像は当社ブースでの出展内容です。