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「SPAR 2017J 第13回 3 次元計測フォーラム」に出展いたしました

2017 年 6 月14日(水), 15 日(木)に川崎市産業振興会館にて開催された「SPAR 2017J 第13回 3 次元計測フォーラム」に出展いたしました。


弊社では今回初めてTOF方式3DスキャナPolaris,空洞モニタリングシステムCMS,モバイルマッピングシステムMAVERICKの展示を行いました。


多くのお問合せを頂き、大変盛況ななか閉会いたしました。


弊社ブースには多くの方にお立ち寄りいただき誠にありがとうございました。